双折射/残余应力测量仪PA-300-L-物性测试仪器-仪器设备-生物在线
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双折射/残余应力测量仪PA-300-L

双折射/残余应力测量仪PA-300-L

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产品名称： 双折射/残余应力测量仪PA-300-L

英文名称：

产品编号： PA-300-L

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产品产地： 日本

品牌商标： Photonic lattic

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PA-300-L

        PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的第一选择。

  
  PA-300-L

主要特点：
  • 操作简单，测量速度可以快到3秒。
  • 视野范围内可一次测量，测量范围广。
  • 更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。
  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。
  • 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
  • 高达2056x2464像素的偏振相机。

应用领域：
  • 光学镜片
  • 智能手机玻璃基板
  • A4纸尺寸的样品

技术参数：
   项次            项目             具体参数
1 输出项目           相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】
 
2 测量波长 520nm
 
3 双折射测量范围 0-130nm
 
4 测量最小分辨率 0.001nm
 
5 测量重复精度 <1nm（西格玛）
 
6 视野尺寸 40x48mm到240x320mm（标准）
 
7 选配镜头视野 低至7x8.4（扩束镜头）
 
8 选配功能                 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制
 
 测量案例：
复印机镜头测量蓝宝石测量单反相机镜头测量