CUBE 金属夹杂物扫描电镜
EM科特（EmCrafts）Cube系列金属夹杂物扫描电镜，可根据不同的检测需求，灵活定制自动分析流程，保证高通量快速运行。同时可将您所需要的样品信息，如颗粒尺寸、形状、长宽比等同时显示在界面。即使是初学者也可以方便快速地获得整个样品中几千甚至几万颗粒的信息。
蔡司扫描电镜原位解决方案
扫描电镜原位技术已经广泛应用于材料科学研究的各个领域，它可以将材料宏观性能与微观结构联系起来，这对研发高性能新型材料非常有帮助。但电镜原位实验从来都不是一个简单的工作，有的时候甚至还需要一些运气。为了让电镜原位实验变得更加智能高效，蔡司最新推出了扫描
蔡司Sigma系列场发射扫描电子显微镜（SEM）
蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma系列，具有高品质的成像和分析能力，将场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。可广泛应用于材料科学、生命科学、工业应用等领域。
德国徕卡序列断层成像解决方案ARTOS 3D
可快速获取适用于序列断层成像的高品质连续切片，使用 ARTOS 3D  超薄切片机，仅需一半时间，即可为序列断层成像获得一致、超薄的连续切片。
蔡司多束扫描电子显微镜
蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM505是专为半导体、生物等样品的大面积高分辨率成像开发的极高通量SEM，可以实现大尺寸样品的纳米级分辨率成像，同时具有高效的成像效率和数据采集速度，自动获取大面积高分辨率图像也更加方便快捷。
S-4800扫描电子显微镜
S-4700HITACHI S4700 SEM的详细描述：A Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEGSEM) of "below-the-lens" design capable of (manufacturer''s
